Aggiudicatoted

fornitura di una piattaforma integrata di microscopia correlativa comprendente sistema FIB/SEM (Focused Ion BeamScanning Electron Microscope), microscopia ottica avanzata e software unificato di gestione e analisi dati, da installarsi presso il locale 2i35 delledificio U3-BIOS dellUniversità degli Studi di Milano - Bicocca

Stazione appaltante

Area Approvvigionamenti Beni e Servizi - Settore Gare Beni e Servizi: Ufficio Gare, Ufficio Procedure Negoziate

Valore stimato

—

Termine di presentazione

Nessun termine pubblicato

Luogo

Milano

Dati del bando

Codici CPV

38510000

Aggiudicatario

CARL ZEISS S.P.A. CON SOCIO UNICO

Importo aggiudicato

989.990 €

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